公司介绍 – Quality AFM Cantilevers - tipsnano.com
 
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  公司介绍
 
AFM Probes. AFM, Atomic Force Microscope, probes or tips are designed to fit into most commercially available AFMs and outperform all other silicon SPM, Scanning Probe Microscope, probes used in surface analysis
 相关产品
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  公司基本资料
公司名称:  Quality AFM Cantilevers - tipsnano.com
连络:  联络我们
网址:  ********
电话:  372-588-66111
传真: 
国家:  爱沙尼亚(波罗的海)
住址:  Kristiina 15-214
  产品橱窗
1. AFM Probes, AFM Tips, AFM Cantilevers, TipsNano AFM Probes
2. Highly Oriented Pyrolytic Graphite (HOPG)
3. Modular Research AFM Corvus
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